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Troubleshooting LC Systems

John W. Dolan, Lloyd R. Snyder

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Which-Is-Better (WIB): Problems in Reliability Theory

Satoshi Mizutani, Xufeng Zhao, Toshio Nakagawa

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Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging

Chong Leong, Gan, Chen-Yu, Huang

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Attacks, Defenses and Testing for Deep Learning

Jinyin Chen, Ximin Zhang, Haibin Zheng

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Network of Things Engineering (NoTE) Lab

Admela Jukan, Xavi Masip-Bruin, Jasenka Dizdarevic, Francisco Carpio

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Recoverable Mutual Exclusion

Sahil Dhoked, Wojciech Golab, Neeraj Mittal

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